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產(chǎn)品介紹 可靠性壽命試驗中壽命與應力的關系:
應力與壽命是密切相關的。應力的種類與水平，是決定產(chǎn) 品壽命的一個重要因素I應力及其水平的選擇是否恰&將決 定試驗能否達到預期的目的，因此，有必要研究它們之間的關系。
產(chǎn)品的壽命與應力之間的關系，是以一定的物理模型為依據(jù)的。常見的物理模型有失效率模型，應力與強度模型，最弱鏈條模型和反應速度模型。
失效率模型是將失效率曲線劃分為早期失效，隨機失效和磨損失效三個階段，并將每個階段的產(chǎn)品失效機理與其失效率 相聯(lián)系起來。人們經(jīng)過仔細的觀察和分類，將失效分為17種類 型：即吸附W效、電弧失效、齒隙（使機械運動停止）失效、 機械運動缺陷失效、表面皺裂失效、碳化失效、摩擦失效、化 學污染失效、變形失效、失真失效、漂移失效、破損失效、泄 漏失效、噪聲失效、開路失效、短路失效和不穩(wěn)性失效等。如果能把每一類失效都求出其失效率，那么，對試驗結果的分析 將帶來很大的方便。
應力與強度模型就是研究實際環(huán)境應力與產(chǎn)品所能承受的 強度的關系。應力與強度均為隨機變量，因此，產(chǎn)品的失效與 否將決定于應力分布和強度分布。隨著時間的推移，產(chǎn)品的強 度分布將逐漸發(fā)生變化，如果應力分布與強度分布一旦發(fā)生了 干預，產(chǎn)品就會出現(xiàn)失效，因此，研究應力與強度模型對了解 產(chǎn)品的環(huán)境適應能力是很重要的。
最鏈條模型躉棊于元器件的失效是發(fā)生在構成元器件的 諸因素中最薄弱的部位這—事實而提出來的。這種模型，對于 研究電子產(chǎn)品在高溫下發(fā)生的失效現(xiàn)象最為有效，因為這類失 效正是由于元器件內(nèi)部潛在的微觀缺陷和污染，在經(jīng)a制造和 使用后而逐漸顯露出來的。暴露最顯著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。
反應速度模型反映了反應速度與溫度的關系。這種模型認 為，產(chǎn)品的失效是由于微觀的分子與原子結構發(fā)生了物理或化 學的變化而引起的，從而導致在產(chǎn)品特性參數(shù)上的退化，當這 種退化超過了某一界限，就發(fā)生失效。在可靠性試驗中通常應 用的阿列尼烏斯模型和愛林模型，都屬于這一類。
